透過型電子顕微鏡（TEM） JEM-2800

研究キーワード

透過型電子顕微鏡（TEM） , ナノ構造解析 , 新材料開発 , 材料の寿命評価

セールスポイント

• 材料内部の微細構造と元素分布を原子レベルで観察できます。
• 材料の寿命評価、新材料開発など、幅広い分野での応用が可能です。

装置概要

透過型電子顕微鏡(TEM)像では、原子レベルの高分解能像を撮影することができます。また、電子ビームをナノメートルレベルまで細く絞ることで、材料内部に含まれている元素組成を二次元画像で表現することができます。

応用事例・使用用途など

構造材料の寿命評価、メカニカルアロイングや拡散接合などで製造した新材料の微細構造評価など

研究内容

［関連分野］ナノ材料開発、トライポロジー、原子力材料
［背景技術］電子顕微鏡、電子ビーム応用
［従来技術の課題］材料内部の元素分布の画像化の速度が従来装置よりも向上しています。
［本研究のポイント・効果など］右図中に示すように、JEM-2800は、1台で複数の像観察機能を有しています。これにより、材料内部の微細構造を原子レベルで観察できるだけでなく、材料内部の元素分布を原子レベルで画像化することもできます。通常の観察では２次元平面像になりますが、３次元トモグラフィ機能を利用すれば、材料内部の微細構造を３次元立体像で観察することができます。